ZEISS ABIS III vereint höchste Inspektionsgeschwindigkeit mit zuverlässiger Detektion aller relevanten Oberflächendefekte. Das System prüft bewegte und stehende Bauteile reproduzierbar und mit höchster Präzision direkt in der Produktionslinie – in Taktzeit. Das neue Oberflächeninspektionssystem liefert somit im Rahmen der Qualitätssicherung kontinuierlich die erforderliche Datenbasis für zielgerichtete Nacharbeiten, schnelle Ursachenanalysen und Prozessoptimierungen. Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erfassung von kleinsten Fehlerarten mit einer Detektionsrate von bis zu 20 Hz bei einer Auswertungszeit von unter 0,5 Sekunden pro Sensoraufnahme. Durch den Einsatz von ZEISS ABIS III und die schnelle Fehlerdetektion entfallen konventionelle Methoden wie manuelle Sichtprüfungen oder die Bearbeitung der Oberfläche mit Schleifsteinen ebenso wie Reklamationen oder kostenintensive Sortieraktionen. Mögliche Bauteilfehler von Pressteilen oder ganzer Rohkarosserien werden in Echtzeit in der Software ZEISS ABIS V20 verarbeitet und visualisiert. Dazu zählen Oberflächendefekte wie Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Risse und ab sofort auch Kratzer, Druckstellen sowie Schweiß- und Kleberrückstände. So stehen Funktionen wie ein Q-Stop und digitale Qualitätsinformationen wie Defektvisualisierungen für eine gezielte Nacharbeit stets zur Verfügung. Diese bilden die Basis für geschlossene Regelkreise und die Voraussetzung zur Umsetzung der proaktiven Prozesssteuerung (Smart Process Control).